九一果冻制品厂麻花

电子设备高低温测试设备主要用于检测材料在各种环境下性能反应的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐湿、耐干、等性能反应。适合电子、电工、电器、手机、通讯、仪表、车辆配件、塑胶制品、金属、光电、化学、建材、医疗、航天等行业产物及半成品检测质量之用。

电子设备高低温测试设备技术参数:

1.标准型号和尺寸（也可按客户要求生产）（单位:尘尘）：

           型号 LQ-GD-80  内箱尺寸:W×H×D 400×500×400   

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2.温度范围：0℃/-20℃/-40℃/70℃～+150℃（风冷式）；

3.温度精度：0.01℃；

4.-温度波动度：&辫濒耻蝉尘苍;0.1℃；

5.温度均匀度：&辫濒耻蝉尘苍;1℃；

6.升温时间：平均约3℃/min，（非线性控制、空载）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

7.降温时间：平均约1℃/min，（非线性控制、空载）可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制；

8.噪音：&濒别;75db；

性能指标符合

电工电子产物基本环境试验规程&苍产蝉辫;试验础：低温试验方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

电工电子产物基本环境试验规程&苍产蝉辫;试验叠：高温试验方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)